ASTM F1212-1989(2002) 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
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时间:2024-05-10 04:18:55
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforThermalStabilityTestingofGalliumArsenideWafers
【原文标准名称】:砷化镓晶片热稳定性的试验方法
【标准号】:ASTMF1212-1989(2002)
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1989
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.15
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;热稳定性;砷化镓;片基
【英文主题词】:galliumarsenide;Haldata;semi-insulating;GaAs;stability;thermalanneal
【摘要】:1.1Thisdestructivetestmethoddetermineswhetheragivensampleofsemi-insulatinggalliumarsenide(GaAs)willremainsemi-insulatingafterexposuretothehightemperaturesnormallyrequiredfortheactivationofimplantedlayers.1.2The
【中国标准分类号】:H83
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:
【原文标准名称】:砷化镓晶片热稳定性的试验方法
【标准号】:ASTMF1212-1989(2002)
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1989
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.15
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;热稳定性;砷化镓;片基
【英文主题词】:galliumarsenide;Haldata;semi-insulating;GaAs;stability;thermalanneal
【摘要】:1.1Thisdestructivetestmethoddetermineswhetheragivensampleofsemi-insulatinggalliumarsenide(GaAs)willremainsemi-insulatingafterexposuretothehightemperaturesnormallyrequiredfortheactivationofimplantedlayers.1.2The
【中国标准分类号】:H83
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:
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